回路基板検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-027037
公開番号（公開出願番号）：特開2000-227451
出願日： 1999年02月04日
公開日（公表日）： 2000年08月15日
要約：

【要約】【課題】製造コストの低減および検査時間の短縮化を図る。【解決手段】検査用プローブ22と、所定位置に配置された検査対象の回路基板Pの一面Pa側における任意のX-Y方向に検査用プローブ22を移動させるための移動機構とを備え、移動機構を駆動して検査用プローブ22を順次移動させると共に、検査用プローブ22によって検出された検出信号に基づいて、回路基板Pに形成された導体パターン43Gaについて所定の電気的検査を実行可能に構成されている回路基板検査装置1において、複数の検査用プローブ22a〜22mを所定間隔で列状に配設した検査用治具5を備え、各検査用プローブ22a〜22mの各々によって検出される検出信号に基づいて電気的検査を実行可能に構成した。

請求項（抜粋）：

検査用プローブと、所定位置に配置された検査対象の回路基板の一面側における任意のX-Y方向に前記検査用プローブを移動させるための移動機構とを備え、前記移動機構を駆動して前記検査用プローブを順次移動させると共に、前記検査用プローブによって検出された検出信号に基づいて、前記回路基板に形成された導体パターンについて所定の電気的検査を実行可能に構成されている回路基板検査装置において、複数の前記検査用プローブを所定間隔で列状に配設した検査用治具を備え、前記各検査用プローブの各々によって検出される前記検出信号に基づいて前記電気的検査を実行可能に構成されていることを特徴とする回路基板検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 , G01R 1/073 , G01R 31/28

FI (4件)：

G01R 31/02 , G01R 1/06 E , G01R 1/073 D , G01R 31/28 K

Fターム (22件)：

2G011AA02 , 2G011AA16 , 2G011AB06 , 2G011AC01 , 2G011AC06 , 2G011AE01 , 2G011AF06 , 2G014AA02 , 2G014AA13 , 2G014AB59 , 2G014AC09 , 2G032AA00 , 2G032AB01 , 2G032AD03 , 2G032AE04 , 2G032AE07 , 2G032AE10 , 2G032AE12 , 2G032AF04 , 2G032AF05 , 2G032AK03 , 2G032AL00

引用特許：

審査官引用 (9件)

特開平4-256868
特開平4-269673
特開昭58-103671

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