特許
J-GLOBAL ID：200903003730984450
リードの状態測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 清
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-242740
公開番号（公開出願番号）：特開平6-066533
出願日： 1992年08月18日
公開日（公表日）： 1994年03月08日
要約：
【要約】【目的】仮想平面を算出してICのリードLの状態を測定する。【構成】xyz座標におけるリードLのw点の座標を求め、該リードLの3点が形成する平面について、他のリードLが全て上側に位置するか判定し、更にパッケージPの重心Gが該3点が形成する3角形の上方にあるか判定し、これらの判定に基づいて仮想平面を設定し、該仮想平面を基準としてリードLの状態を測定する。
請求項（抜粋）：
複数のリードを備えた部品におけるリードの状態測定方法であって、所定の基準からの各リードの所定点の位置を検出し、該リードの中の少なくとも3本のリードの所定点が形成する第1の候補面を求め、該第1の候補面が該3本のリード以外の他のリードの所定点より部品下方側にあるか否か判定し、下方側にある面を第2の候補面として選択し、部品の重心を通る鉛直線が該第2の候補面と交叉する点が該3本のリードが形成する3角形内にあるか否か判定し、3角形内にある場合にはその面を仮想平面とし、該仮想平面を基準として各リードの状態を判断する、ことを特徴とするリードの状態測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, H01L 21/66
, H01L 23/50
