特許

J-GLOBAL ID：200903003731034880

引張り試験の絞り計測方法

発明者： 山口 善三 ,  森内 直樹
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 半田 昌男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-315180
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146787
出願日： 1998年11月05日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】 試験片の絞りを自動計測することができる引張り試験の絞り計測方法を提供する。【解決手段】 引張り試験によって破断した試験片2の背面を第一照明装置30で照らしながら、CCDカメラ20で二つの試験片2を撮像することにより、試験片2についての画像を取得する。画像処理装置50は、その画像に二値化処理を施し、二値画像にラベル付けの処理を施した後、ラベル付けられた各領域についての所定の特徴量を求める。次に、画像処理装置50は、特徴量に基づいて各領域の中から各試験片2に対応する二つの試験片領域を抽出し、二つの試験片領域について破断面の位置及び間隔を算出する。そして、画像処理装置50は、破断面の位置及び間隔に基づいて、二値画像に対して二つの試験片領域の破断面を繋ぎ合わせた後、破断面の近傍における試験片2の絞りを計測する。

請求項（抜粋）：

引張り試験によって二つに破断した試験片を撮像することにより前記試験片についての画像データを取得する工程と、前記画像データに二値化処理を施すことにより二値画像データを得る工程と、前記二値画像データにラベル付け処理を施した後、ラベル付けられた各島についての所定の特徴量を求める工程と、前記特徴量に基づいて前記各島の中から前記二つの試験片に対応する二つの島を抽出する工程と、前記二つの島について破断面の位置及び間隔を算出する工程と、前記破断面の位置及び間隔に基づいて前記二値画像データに対して前記二つの島の破断面を繋ぎ合わせる工程と、前記破断面を繋ぎ合わせた前記二値画像データに基づいて前記破断面の近傍における前記試験片の絞りを算出する工程と、を具備することを特徴とする引張り試験の絞り計測方法。

IPC (4件)：

G01N 3/08 ,  G01B 11/16 ,  G01B 11/24 ,  G01N 3/06

FI (4件)：

G01N 3/08 ,  G01B 11/16 H ,  G01B 11/24 A ,  G01N 3/06

Fターム (35件)：

2F065AA02 ,  2F065AA22 ,  2F065AA52 ,  2F065AA65 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM06 ,  2F065PP11 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2G061AA01 ,  2G061AB03 ,  2G061BA02 ,  2G061BA20 ,  2G061CB01 ,  2G061CB02 ,  2G061CB05 ,  2G061DA07 ,  2G061EA01 ,  2G061EC05