X線回折装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西岡義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-343010
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185844
出願日： 1996年12月24日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：

【要約】【課題】装置の各構成部品の劣化や周囲環境の変化に影響されないX線強度データを得て、常に定量精度をよい状態に保つ。【解決手段】X線管1からのX線は試料2に照射され、試料からの回折X線が検出器3によって検出される。このX線強度データは制御部5を介してデータ処理部6に取り込まれ測定データメモリ6aに記憶される。メンテナンスをした直後に経時的に変化しない基準試料の強度を基準強度として基準強度メモリ6bに記憶しておく。分析試料の測定時に基準試料の強度が再び測定され、そのときの強度と記憶されている基準強度から補正関数を求めて補正関数メモリ6cに記憶し、その関数を用いて分析対象試料のX線強度を演算部6dが補正演算して、以後の定性・定量分析に利用する。

請求項（抜粋）：

試料に特性X線を照射するX線源と、この試料によって回折されるX線を検出する検出器を備えたX線回折装置において、基準とする時点において基準試料を測定したときの基準強度を記憶する記憶手段と、分析対象試料を測定する時点において測定される基準試料の分析時点強度と記憶されている前記基準強度に基づいて分析対象試料の測定強度を補正する補正式を求める演算手段を備え、分析対象試料の測定時に前記X線源や検出器等の状態変化による分析対象試料のX線強度の変化を補正するようにしたことを特徴とするX線回折装置。

引用特許：

審査官引用 (1件)

フリーライム測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-013065 出願人：日本アイ.テイー.エス株式会社

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