特許
J-GLOBAL ID：200903003802215260

試験装置及び試験方法

発明者：
長谷川 隆

長谷川 隆 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 工藤 実 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-149990
公開番号（公開出願番号）：特開2002-341740
出願日： 2001年05月18日
公開日（公表日）： 2002年11月29日
要約：
【要約】【課題】試験をより短時間に終了させること。【解決手段】本発明による試験装置3は、問題28を作成する問題作成部13と、回線網2を介して受験者端末4に問題28を出題し、且つ、問題28に対応する解答を受験者端末4から受信する試験部14と、試験部14が解答を受信する毎にその解答に基づいて点数をつける採点部15と、点数が合格点を越えたときに試験の途中であっても回線網2を介して受験者端末4に合格を通知する結果通知部16とを具備している。
請求項（抜粋）：
問題を作成する問題作成部と、回線網を介して受験者端末に前記問題を出題し、且つ、前記問題に対応する解答を前記受験者端末から受信する試験部と、前記試験部が前記解答を受信する毎に前記解答に基づいて点数をつける採点部と、前記点数が合格点を越えたときに前記回線網を介して前記受験者端末に合格を通知する結果通知部とを具備する試験装置。
IPC (3件)：
G09B 7/04 ,  G06F 17/60 128 ,  G09B 7/08
FI (3件)：
G09B 7/04 ,  G06F 17/60 128 ,  G09B 7/08
Fターム (8件)：
2C028AA00 ,  2C028BA01 ,  2C028BA02 ,  2C028BB04 ,  2C028BC01 ,  2C028BC02 ,  2C028BD02 ,  2C028CA13
引用特許：
審査官引用 (1件)

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