特許

J-GLOBAL ID：200903003818865354

光ファイバ分布型水素ガス濃度測定装置

発明者： 和田 亨 ,  五十嵐 嘉彦 ,  高橋 敦
出願人/特許権者： 株式会社フジクラ
代理人 (1件)： 藤巻 正憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-128880
公開番号（公開出願番号）：特開平7-333143
出願日： 1994年06月10日
公開日（公表日）： 1995年12月22日
要約：

【要約】【目的】 広範囲な領域の水素ガス濃度を測定することができ、水素ガス濃度監視システムを容易に構築できる光ファイバ分布型水素ガス濃度測定装置を提供する。【構成】 水素ガス濃度を測定すべき測定領域10に光ファイバ2を布設する。そして、この光ファイバ2の一方の端部を光源1に接続し、他方の端部を光損失測定器3に接続する。光源1から出力された光は、光ファイバ2を通る際に、光ファイバ2中に浸透した水素ガスにより、特に波長が約1.24μmの光が吸収損失を受ける。光損失測定器3は、光ファイバ2を通過した光のうち、波長が約1.24μmの光の損失を測定し、その結果に基づき、測定領域10の水素ガス濃度を求める。

請求項（抜粋）：

光源と、この光源から出力される光が通る光ファイバと、この光ファイバ中に浸透する水素ガスによる光の損失を測定しその結果に基づいて水素ガス濃度を求める水素ガス濃度測定手段とを有することを特徴とする光ファイバ分布型水素ガス濃度測定装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-066949
  
• 水素検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-341974   出願人：住友電気工業株式会社
• 特開昭63-249040