特許
J-GLOBAL ID：200903003850951130
ディスプレイパネル用検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-094379
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308035
出願日： 1993年04月21日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：
【要約】【構成】 ディスプレイパネル1を保持するバックアップ部材9と、ディスプレイパネル1の端子部2の入力端子に接触するプローブ3...を有するプローブカード4と、保持されたディスプレイパネル1の下面に光を照射するバックライト6と、上記入力端子とプローブ3...との接触状態を観察する観察ユニット5とを備え、上記観察ユニット5が、ディスプレイパネル1とバックライト6間に設けられるとともに、上記バックアップ部材9の、上記入力端子とプローブ3...との接触部分に対応する部分に欠切が形成されている。【効果】 プローブカード4の形状にかかわらず、ディスプレイパネル1の表示品位等の検査を良好に行うことができ、検査精度を向上させることができる。
請求項（抜粋）：
透明電極を有するディスプレイパネルの端子部の端子群形成面と反対側の面に当接して保持する保持部材と、上記端子群に接触する接触部材を有し、ディスプレイパネルに表示信号を出力する表示信号出力手段と、上記ディスプレイパネルの下面に光を照射する照射手段と、上記端子群と接触部材との接触状態を観察する観察手段と、上記表示信号出力手段によって表示信号が出力されるとともに、上記照射手段によって光が照射されたディスプレイパネルの表示状態を検査する表示状態検査手段とを備えたディスプレイパネル用検査装置において、上記観察手段が、保持されたディスプレイパネルと上記照射手段との間に設けられるとともに、上記保持部材の、端子群と接触部材との接触部分に対応する部分が欠切されていることを特徴とするディスプレイパネル用検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/84
, G01R 31/00
, G02F 1/13 101
