特許
J-GLOBAL ID:200903003892385496

固体撮像装置用半導体チップ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 光男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-256050
公開番号(公開出願番号):特開平6-112284
出願日: 1992年09月25日
公開日(公表日): 1994年04月22日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】欠陥画素を容易に検出することを目的とする。【構成】同一パターンが複数のX線上及びY線上に配列された半導体チップ4Aの表面の有効画素部Sの周辺部に、絶縁膜X線及びY線に対応してアドレスマーク11を形成した。【効果】欠陥画素の特定は前記アドレスマークを辿ることにより容易に行うことができ、欠陥部を観察してその原因を分析する作業を効率よく行うことができる。
請求項(抜粋):
同一パターンが複数のX軸線上及びY軸線上に配列された半導体チップの表面の有効部の周辺部に、前記各X軸線及びY軸線に対応してアドレスマークを形成したことを特徴とする固体撮像装置用半導体チップ。
IPC (2件):
H01L 21/66 ,  H01L 27/14

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