特許
J-GLOBAL ID：200903003939608480
表面凹凸検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-008147
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206139
出願日： 1997年01月21日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：
【要約】【課題】 外形が丸みを帯びた曲面の検査対象品であっても、その表面の凹凸を確実に検出する。【解決手段】 コンデンサ本体2への照射角度の範囲が、コブ3の傾きφの4倍とコンデンサ本体2までの距離Dとの積以下の大きさLの面照明20を用い(すなわち、L<4φ×D)、この面照明20で照射したコンデンサ本体2をテレビカメラ5で撮影し、テレビカメラ5から入力された画像データをデジタル化し、デジタル化された画像データにおいて、面照明20によって光っている領域の中で島状に暗くなっている部分の個数と面積を計算し、得られた計算値に基づいてコブ3の有無を判定する。
請求項（抜粋）：
検査対象品への照射角度の範囲が、検出したい凹凸の傾斜角度の4倍と検査対象品までの距離との積以下の大きさの面照明を用い、この面照明で検査対象品を照射した際の画像をデジタルデータとして画像入力部より入力し、入力されたデジタルデータを画像格納部に格納し、検査対象品の面照明によって光っている領域の中で島状に暗くなっている部分の個数と面積を計算し、得られた計算値に基づいて凹凸の有無を判定することを特徴とする表面凹凸検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/30 G
, G01N 21/88 Z
