特許
J-GLOBAL ID：200903003951786505
ひび割れ計測処理装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 良徳 (外8名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-138199
公開番号（公開出願番号）：特開平6-148089
出願日： 1992年05月29日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 メモリ容量を低減し、断続していても一体とみなせるひび割れ線のグループ化が可能なひび割れ計測処理装置を提供する。【構成】 本ひび割れ計測処理装置は、マスク処理部3、2値化処理部4、面積・重心算定部5でマスク帯を用いて画像データからひび割れ座標とひび割れ幅からなるひび割れマスク情報を生成し、全体座標変換部8で全体座標に変換し、太幅ひび割れデータ処理・マスク沿線処理部10で細幅マスクデータから太幅ひび割れデータ、マスク沿線ひび割れデータを抽出分離し、ひび割れ線連結処理部11、ひび割れベクトルデータ作成部13によりひび割れマスク情報を相対するマスク間で連結してひび割れベクトルデータを生成する。この構成により、ひび割れ座標とひび割れ幅からなるひび割れマスク情報を取り込むだけですみ、メモリ容量を大幅に低減することができる。
請求項（抜粋）：
撮像カメラをコンクリート等の表面領域で移動して画像データを取り込みコンクリート等の表面に存在するひび割れを計測するひび割れ計測処理装置において、マスク帯を用いて画像データからひび割れ中心位置とひび割れ幅からなるひび割れマスク情報を生成し、該ひび割れマスク情報を相対するマスク間で連結してひび割れベクトルデータを生成するように構成したことを特徴とするひび割れ測定処理装置。
IPC (3件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G06F 15/62 380
