特許

J-GLOBAL ID：200903003990223305

A/D変換装置及び物理量検出装置

発明者： 渡辺 高元 ,  川北 晴夫 ,  青山 正紀
出願人/特許権者： 日本電装株式会社
代理人 (1件)： 足立 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-296565
公開番号（公開出願番号）：特開平7-154256
出願日： 1993年11月26日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：

【要約】【目的】 動作条件の変動に伴い生じる数値化誤差を自己補正可能なA/D変換装置及びこのA/D変換装置を備えた物理量検出装置を提供する。【構成】 磁気変化を検出する物理量検出装置を、発振器16,18から磁気変化に応じて変化する発振周波数のパルス信号CKA,CKBを出力させ、カウンタ・デコーダ部22,24により、各パルス信号CKA,CKBから、磁気変化に対応して位相差が変化するパルス信号PA,PCと、パルス信号PAに対して発振器16の発振周波数に応じた所定の位相差を有するパルス信号PBとを生成し、更に、パルス位相差符号化回路30にて、パルス信号PAとPCとの位相差、及びパルス信号PAとPBとの位相差を夫々数値化して、除算器50により、その数値化されたデジタル値DC,DBの比率DD(=DB/DC)を求め、この値DDから磁気変化を表す検出信号POを生成するように構成する。

請求項（抜粋）：

入力信号を数値化するA/D変換手段と、該A/D変換手段に、数値化すべき数値化信号と共に、所定の基準信号を入力し、これら各信号を夫々数値化させる信号入力手段と、上記A/D変換手段にて数値化された上記数値化信号及び上記基準信号の値を夫々読み込み、上記数値化信号の上記基準信号に対する比率を演算して、該演算結果を上記数値化信号の真の値として出力する演算手段と、を備えたことを特徴とするA/D変換装置。

IPC (4件)：

H03M 1/10 ,  G01D 5/247 ,  H03M 1/60 ,  G01R 25/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光損失測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-064928   出願人：横河電機株式会社
• 特開平4-290312