特許

J-GLOBAL ID：200903004032186557

測距装置及びカメラ

発明者： 一宮 敬
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-253038
公開番号（公開出願番号）：特開2002-072061
出願日： 2000年08月23日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：

【要約】【課題】 第1の演算手段による測距時においては、測距対象が近距離側に位置したとしても適正に測距を行い、第2の演算手段による測距時においては、遠近競合を防いだ測距を行うようにする。【解決手段】 複数の光電変換部より成り、受光範囲を可変な受光手段と、前記投光手段を駆動し、投光手段による前記測距対象での投射光の反射光を受光する前記受光手段の各出力に基づいて測距情報を算出する第1の演算手段(#302)と、前記投光手段を駆動せずに、外光の前記測距対象での反射光を受光する前記受光手段の各出力に基づいて測距情報を算出する第2の演算手段(#306)とを有し、前記第1の演算手段により測距を行う際に使用する前記受光手段の受光範囲に対し(#301)、前記第2の演算手段により測距を行う際に使用する前記受光手段の受光範囲を狭くする(#304又は#305)ようにする。

請求項（抜粋）：

測距対象へ向けてスポット状の光を投射する投光手段と、複数の光電変換部より成り、受光範囲を可変な受光手段と、前記投光手段を駆動し、前記投光手段による前記測距対象での投射光の反射光を受光する前記受光手段の各出力に基づいて測距情報を算出する第1の演算手段と、前記投光手段を駆動せずに、外光の前記測距対象での反射光を受光する前記受光手段の各出力に基づいて測距情報を算出する第2の演算手段とを有し、前記第1の演算手段により測距を行う際に使用する前記受光手段の受光範囲に対し、前記第2の演算手段により測距を行う際に使用する前記受光手段の受光範囲を狭くするようにしたことを特徴とする測距装置。

IPC (6件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/46 ,  G02B 7/30 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (7件)：

G01C 3/06 A ,  G01C 3/06 V ,  G01S 17/46 ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

Fターム (37件)：

2F112AA07 ,  2F112AC03 ,  2F112BA03 ,  2F112BA06 ,  2F112CA02 ,  2F112CA12 ,  2F112DA02 ,  2F112DA24 ,  2F112DA28 ,  2F112FA03 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  2H011AA01 ,  2H011BA01 ,  2H011BA11 ,  2H011BB02 ,  2H011CA01 ,  2H051BB07 ,  2H051BB09 ,  2H051BB20 ,  2H051BB25 ,  2H051CB20 ,  2H051CC02 ,  2H051CC07 ,  2H051CE21 ,  2H051DA02 ,  2H051DA03 ,  2H051DA07 ,  2H051DA19 ,  2H051DA31 ,  2H051EB13 ,  2H051FA61 ,  5J084AA05 ,  5J084BA32 ,  5J084BA38 ,  5J084BB02 ,  5J084EA04