特許

J-GLOBAL ID：200903004048350268

測光及び測距装置

発明者： 清水 さおり ,  八道 剛 ,  島崎 泰成 ,  後藤 尚志
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-121511
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313796
出願日： 1995年05月19日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：

【要約】【目的】温特のない正確な測距値、及び測光値の検出を行うことができ、かつ実装上有利な測光及び測距装置を実現することを目的とする。【構成】この測光及び測距装置は、温度依存性を有し被写体輝度に応じた第1アナログ信号を出力する測光用処理回路114と、この測光用処理回路114と同一基板上に形成され、温度依存性を有さず、被写体の距離に応じた情報を検出するための第2アナログ信号を出力する測距用処理回路113と、上記第1及び第2アナログ信号をAD変換するCPU130と、測光を行う際には、上記第1アナログ信号と等しい温度特性をもつ第1基準電圧を、焦点検出を行う際には温度依存性のない第2基準電圧を、上記CPU130に供給する基準電圧発生部120とを有した構成となっている。

請求項（抜粋）：

温度依存性を有し、被写体輝度に応じた第1アナログ信号を出力する測光手段と、この測光手段と同一半導体基板上に形成され温度依存性を有さず、被写体の距離に応じた情報を検出するための第2アナログ信号を出力する焦点検出手段と、上記第1及び第2アナログ信号をAD変換するAD変換手段と、測光を行う際には、上記第1アナログ信号と等しい温度特性をもつ第1基準電圧を、焦点検出を行う際には温度依存性のない第2基準電圧を、上記AD変換手段に供給する基準電圧供給手段と、を具備することを特徴とする測光及び測距装置。

IPC (3件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

G02B 7/11 Z ,  G01C 3/06 V ,  G03B 3/00 A