特許

J-GLOBAL ID：200903004092365132

引張試験における伸び測定方法

発明者： 金子 達治 ,  木田 昌
出願人/特許権者： 横浜ゴム株式会社
代理人 (1件)： 小川 信一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-029095
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241967
出願日： 1993年02月18日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：

【要約】【目的】 本発明の目的は、レンズによる両端側の収差を補正して測定精度の向上を可能にした引張試験における伸び測定方法を提供することにある。【構成】 画像読取装置1で標準プレートPの目盛りを読み取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリー10を介して中央演算処理部6に取り込みカメラレンズの収差補正を行った後、画像読取装置10で読み取られた試験片Sの2本の標線Q,Q ́を有する測定部をフレームメモリー10を介して中央演算処理部6に取り込み、この取り込まれた測定部の標線間の距離を標準プレートPの目盛りで収差補正を行い演算して、試験片Sの伸びを求めることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

画像読取装置で標準プレートの目盛りを読み取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリーを介して中央演算処理部に取り込みカメラレンズの収差補正を行った後、前記画像読取装置で読み取られた試験片の2本の標線を有する測定部を前記フレームメモリーを介して中央演算処理部に取り込み、この取り込まれた測定部の標線間の距離を標準プレートの目盛りで収差補正を行い演算して、前記試験片の伸びを求める引張試験における伸び測定方法。

IPC (2件)：

G01N 3/06 ,  G01N 3/08

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-250006
  
• 特開平4-071242
  
• 特開昭59-074654