レーザー光を用いた非接触式の伸縮変位量測定法。

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：植田茂樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-306381
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124516
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】試料の伸縮変位量を、レーザー光のスペックルパターンを利用した非接触式でありながら汎用の画像解析プログラムを用いて、比較的安価で簡単かつ確実に測定する。【解決手段】試料表面の第一標線相当点とこの第一標線相当点から所要の距離をおいた第二標線相当点とにレーザー光を照射する。伸縮変位量測定時における上記レーザー光の反射した散乱光のスペックルパターンをCCDなどの撮像素子によってディジタルデータ化する。次いで、ディジタルデータを粒子の画像データに変換した後、PIV解析プログラムによって解析する。解析は、干渉縞を粒子の表出したものとして捉え、変位前後の画像から第一及び第二標線相当点の移動量を個別に算出し、両移動量から第一及び第二標線相当点間の試料の伸縮変位量を得る。

請求項（抜粋）：

試料表面の第一標線相当点とこの第一標線相当点から所要の距離をおいた第二標線相当点とにレーザー光を照射し、伸縮変位量測定時における上記レーザー光の反射した散乱光のスペックルパターンを撮像素子によりディジタルデータ化し、このディジタルデータを粒子の画像データに変換した後、PIV解析プログラムによって解析することにより、第一及び第二標線相当点の移動量を個別に算出し、両移動量から第一及び第二標線相当点間の試料の伸縮変位量を得る、ことを特徴とするレーザー光を用いた非接触式の伸縮変位量測定法。

IPC (2件)：

G01B 11/00 , G01B 11/16

FI (2件)：

G01B 11/00 G , G01B 11/16 G

Fターム (17件)：

2F065AA02 , 2F065AA07 , 2F065AA09 , 2F065AA65 , 2F065BB02 , 2F065BB29 , 2F065FF56 , 2F065GG06 , 2F065GG23 , 2F065HH13 , 2F065JJ03 , 2F065JJ09 , 2F065JJ26 , 2F065MM02 , 2F065QQ00 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25

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