特許
J-GLOBAL ID：200903004183481020
プラズマディスプレイパネルの特性検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
岩橋 文雄
, 内藤 浩樹
, 永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-331092
公開番号（公開出願番号）：特開2007-141542
出願日： 2005年11月16日
公開日（公表日）： 2007年06月07日
要約：
【課題】不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。【解決手段】一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法において、プラズマディスプレイパネルの点灯条件を設定し、その点灯条件におけるプラズマディスプレイパネルの点灯状態を撮像手段により撮像する撮像ステップ(ステップ1、2)と、その撮像した画像を用いて前記画像の特徴を表す階調別ヒストグラムを求め、その階調別ヒストグラムより全ての放電セルが点灯しているか否かを判定する画像処理ステップ(ステップ3〜ステップ8)とを有し、点灯条件を変えながら撮像ステップと画像処理ステップとを行う。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法において、プラズマディスプレイパネルの点灯条件を設定し、その点灯条件における前記プラズマディスプレイパネルの点灯状態を撮像手段により撮像する撮像ステップと、その撮像した画像を用いて前記画像の特徴を表す階調別ヒストグラムを求め、その階調別ヒストグラムより全ての前記放電セルが点灯しているか否かを判定する画像処理ステップとを有し、前記点灯条件を変えながら前記撮像ステップと前記画像処理ステップとを行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
IPC (3件)：
H01J 9/42
, H01J 11/02
, G01M 11/00
H01J9/42 A
, H01J11/02 Z
, G01M11/00 T
2G086EE12
, 5C012AA09
, 5C012BE03
, 5C040FA01
, 5C040FA04
, 5C040GB03
, 5C040GB14
, 5C040JA26
, 5C040MA23
