光学式センサ装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：牛久健司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-331155
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311312
出願日： 1994年12月08日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：

【要約】【目的】物体の有無,表面の状態,材質,光散乱体等を簡単な構成で正確に判別する。【構成】発光素子10から被検出物体1に投射光を投射し,その反射光(透過光,散乱光)を偏光ビーム・スプリッタ40に入射させる。偏光ビーム・スプリッタ40の反射光を受光素子20で,透過光を受光素子30で受光する。それらの受光信号をS,Pとしたときに,S/P,S-P,S-kP,(S-P)/(S+P)等の値に基づいて判別する。

請求項（抜粋）：

被検出物体に向けて光を投射する投光光学系と,被検出物体からの反射光,透過光または散乱光が入射する受光光学系とを含み,投光光学系は少なくとも投射光を出力する発光素子を含み,受光光学系が,被検出物体からの反射光,透過光または散乱光をその入射面についてのS偏光成分を主とする第1の光束とP偏光成分を主とする第2の光束とに分離し,その光分離特性が使用入射角範囲内において実質的に一定である偏光ビーム・スプリッタ,上記第1の光束を受光する第1の受光素子,および上記第2の光束を受光する第2の受光素子を含む,光学式センサ装置。

IPC (4件)：

G02B 5/30 , G01B 11/30 , G01N 21/21 , G02B 5/04

引用特許：

出願人引用 (11件)

特開平3-025350
特開平4-252942
特開平2-085744

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審査官引用 (9件)

特開平3-025350
特開平4-252942
特開平2-085744

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