特許
J-GLOBAL ID：200903004188038590
質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-359023
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185873
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：
【要約】【課題】 バックグラウンドノイズによる影響を除去し正確な質量スペクトルを求める。【解決手段】 目的試料の測定に先立ってバックグラウンドノイズの質量スペクトルを測定し、各ピークの質量数とレベルとを記憶部23に記憶しておく。目的試料の測定により各ピークの質量数とレベルとのデータを取得した後、ピーク選択部24は記憶部23に記憶しているデータを参照して、各質量数毎にノイズレベルよりも高いレベルを有するピークのみを選択し、スペクトル作成部25にてノイズによるピークを除去した正確な質量スペクトルを作成する。
請求項（抜粋）：
a)目的とする試料の測定に先立って該試料を導入せずに質量走査を行ない、バックグラウンドノイズのスペクトルに関する情報を記憶しておく記憶手段と、b)該記憶手段に記憶している情報を基に、目的とする試料の測定を行なって得た複数のピークの中から該ピークの質量数におけるバックグラウンドノイズのレベルよりも高いピークレベルを有するもののみを選択する選択手段と、c)該選択手段により選択されたピーク情報に基づいてスペクトルを作成するスペクトル作成手段と、を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, H01J 49/26
, H01J 49/42
G01N 27/62 D
, H01J 49/26
, H01J 49/42
