特許
J-GLOBAL ID:200903004203099330

窒化物半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日向寺 雅彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-202782
公開番号(公開出願番号):特開2008-034411
出願日: 2006年07月26日
公開日(公表日): 2008年02月14日
要約:
【課題】コストが低く、縦方向耐圧が高い窒化物半導体素子を提供する。【解決手段】窒化物半導体素子1において、支持基板としてSOI基板2を設け、このSOI基板2上にバッファー層としてAlN層3を形成し、その上にチャネル層としてGaN層4を形成し、その上にバリア層としてAlGaN層5を形成し、その上にソース電極6、ドレイン電極7及びゲート電極8を設ける。SOI基板2は、導電性Si基板21、SiO2層22及びSi層23により構成されており、その厚さ方向について絶縁性である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
Siを含む基板と、 前記基板上に設けられ、窒化物半導体材料からなるチャネル層と、 前記チャネル層上に設けられ、窒化物半導体材料からなるバリア層と、 前記バリア層に接続された第1及び第2の主電極と、 前記バリア層上における前記第1の主電極と前記第2の主電極との間に設けられた制御電極と、 を備え、 前記基板における少なくとも一部の層の抵抗率は1kΩ/cm以上であることを特徴とする窒化物半導体素子。
IPC (3件):
H01L 21/338 ,  H01L 29/778 ,  H01L 29/812
FI (1件):
H01L29/80 H
Fターム (17件):
5F102FA08 ,  5F102GB01 ,  5F102GC01 ,  5F102GD01 ,  5F102GJ03 ,  5F102GJ10 ,  5F102GK04 ,  5F102GK08 ,  5F102GL04 ,  5F102GM04 ,  5F102GM08 ,  5F102GQ01 ,  5F102GR04 ,  5F102GS01 ,  5F102GT01 ,  5F102GT03 ,  5F102GV05
引用特許:
出願人引用 (1件)

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