特許
J-GLOBAL ID：200903004205756494
レ-ザビ-ムによるアブレーション装置およびその方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-034061
公開番号（公開出願番号）：特開平6-226471
出願日： 1993年01月29日
公開日（公表日）： 1994年08月16日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 アブレ-ションレ-トの変化による較正を容易に行うことができるレ-ザビ-ムによるアブレーション装置を提供する。【構成】 加工目的物のアブレーションレ-トに対して既知のアブレーションレ-トを持つレ-ト基準物と、該レ-ト基準物に対して第1の光学特性を持つ曲面を形成すべく前記制御手段19に指示する指示手段と、該制御手段の制御に基づいて実際に形成されたレ-ト基準物の曲面の第2の光学特性を測定する測定手段と、該測定手段により測定された第2の光学特性を入力する入力手段と、該入力手段により入力された第2の光学特性と前記第1の光学特性の比較に基づいて加工目的物に対するアブレ-ションレ-トを算出し装置の駆動情報を較正する較正手段と、を持つことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
加工目的物を所期する形状にアブレーションするためにレーザビームを供給するレーザビーム供給手段と、レーザビームを加工目的物まで導光する導光光学系と、加工目的物に対してアブレーションする領域を変える領域変更手段と、該領域変更手段の動作を制御する制御手段とを有するアブレーション装置において、前記加工目的物のアブレーションレ-トに対して既知のアブレーションレ-トを持つレ-ト基準物と、該レ-ト基準物に対して第1の光学特性を持つ曲面を形成すべく前記制御手段に指示する指示手段と、前記制御手段の制御に基づいて実際に形成されたレ-ト基準物の曲面の第2の光学特性を測定する測定手段と、該測定手段により測定された第2の光学特性を入力する入力手段と、該入力手段により入力された第2の光学特性と前記第1の光学特性の比較に基づいて加工目的物に対するアブレ-ションレ-トを算出し装置の駆動情報を較正する較正手段と、を持つことを特徴とするレ-ザビ-ムによるアブレーション装置。
IPC (4件)：
B23K 26/00
, A61B 17/36 350
, A61F 9/00 311
, A61F 9/00 323
