特許

J-GLOBAL ID：200903004223724451

超音波探傷方法

発明者： 横川 芳夫
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-099405
公開番号（公開出願番号）：特開平6-308097
出願日： 1993年04月26日
公開日（公表日）： 1994年11月04日
要約：

【要約】【目的】 被検体3表面の反射波に、被検体3の欠陥に基づく反射波が埋もれるような場合にも、その欠陥を検出できるようにすることを目的とする。【構成】 被検体3の探傷面とは反対側には、超音波を反射する反射板6を配置し、反射板6による反射波に基づいて、被検体3の欠陥を検出するようにしている。

請求項（抜粋）：

高速電子走査形の探触子によって被検体に超音波を送波し、その反射波を受波して被検体の欠陥を検出する超音波探傷方法において、前記被検体の探傷面とは反対側に、超音波を反射する反射板を配置し、該反射板による反射波に基づいて、被検体の欠陥を迅速に検出することを特徴とする超音波探傷方法。