特許

J-GLOBAL ID：200903004253146142

テラヘルツ放射線を用いた定量分析の方法および装置

発明者： タデイ,フィリップ,フランシス
出願人/特許権者： テラビュー リミテッド
代理人 (3件)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-508373
公開番号（公開出願番号）：特表2006-526774
出願日： 2004年05月24日
公開日（公表日）： 2006年11月24日
要約：

試料を定量的に分析する方法であって、25GHzから100THzの範囲の複数の周波数を持つ放射線で試料を照射するステップと、前記試料の周波数領域波形を得るため、前記試料から反射されたおよび/または前記試料を透過した放射線を検出するステップと、分子間励起または他の非分子内励起によるスペクトル特性を含む、前記周波数領域波形の少なくとも一つの関心区画を定めるステップと、前記区画から試料の成分濃度に関する値を得るステップと、を有する方法。

請求項（抜粋）：

試料を定量的に分析する方法であって、 25GHzから100THzの範囲の複数の周波数を持つ放射線で試料を照射するステップと、 前記試料の周波数領域波形を得るため、前記試料から反射されたおよび/または前記試料を透過した放射線を検出するステップと、 分子間励起または他の非分子内励起によるスペクトル特性を含む、前記周波数領域波形の少なくとも一つの関心区画を定めるステップと、 前記区画から試料の成分濃度に関する値を得るステップと、 を有する方法。

IPC (1件)：

G01N 21/35

FI (1件)：

G01N21/35 Z

Fターム (11件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM14 ,  2G059MM17

引用特許：

審査官引用 (2件)

• インキ膜厚・含水率計測装置及びこれを備える印刷機並びにインキ膜厚・含水率計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-101941   出願人：三菱重工業株式会社, アイシン精機株式会社
• 分光分析装置およびレーザラマン分光分析装置、これを用いた分光分析法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-239934   出願人：東芝セラミックス株式会社

引用文献：

審査官引用 (5件)

• “Using Terahertz Pulse Spectroscopy to Study the Crystalline Structure of a Drug: A Case Study of t
• テラヘルツ分光イメージングによる薬品の成分解析 Component analysis of chemicals using terahertz spec
• “FAR-INFRARED ABSORPTION IN LIQUID WATER”
• “Possibility of breakdown of overdamped and narrowing limits in low-frequency Raman spectra: phenom
• “Terahertz time-domain spectroscopy of water vapor”