特許

J-GLOBAL ID：200903004253705826

検査装置

発明者： 岡本 輝司
出願人/特許権者： 広島アルミニウム工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-193205
公開番号（公開出願番号）：特開平7-103903
出願日： 1992年06月25日
公開日（公表日）： 1995年04月21日
要約：

【要約】【目的】 切削加工後の円形周縁表面の検査を自動化する。【構成】 回転する検査台と被検査体の円形周縁検査部に光を照射する光源とその反射光を受光するカメラとその画素毎に識別された画素の画素数が設定した基準値を越えたかどうかを判断する手段と基準値を外れた被検査体を疎外する手段とを備えた検査装置。

請求項（抜粋）：

円形の外周検査面をもつ被検査体を待機させる定位置と該被検査体を検査台に移送する手段と該検査台上で検査する手段と検査済みの被検査体を次工程に移送する手段より構成される検査装置において、上記検査手段が回転する検査台と該台と共に回転する被検査体に光を照射する光源と被検査体より反射された光を受光するCCDカメラとその受光すべき画素の受光しない画素を識別して所定の一団の画素数内で該画素の合計画素数と設定された基準値と比較し被検査体の良否を判定する電子回路と設定された基準値以下と判定された被検査体のみを次工程へ移送する指令回路とを備えて円形の外周検査面の表面凹欠陥を検査することを特徴とする検査方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/64 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-191047
  
• 特開平3-205541
  
• 特開昭56-160645
  
• 特開昭62-274245