特許

J-GLOBAL ID：200903004296021025

二次電池試験装置

発明者： 葛西 昌弘 ,  熊代 祥晃
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-082275
公開番号（公開出願番号）：特開2003-282150
出願日： 2002年03月25日
公開日（公表日）： 2003年10月03日
要約：

【要約】【課題】従来の二次電池試験装置は、電池電圧や容量でしか試験パターンを制御できなかった。本発明では、1分以下望ましくは10秒以下の時間で制御された試験パターンで試験可能な二次電池試験装置を提供する。【解決手段】試験ユニットは、充放電ユニットとこれを制御する制御ユニットから構成され、制御ユニットは制御部と、クロック部から構成され、制御部は、クロック部のクロック信号に基づき充放電ユニットの動作を制御する。【効果】本発明によるならば、二次電池を10秒単位で変化する複雑な試験パターンで試験できるようになるという効果がある。

請求項（抜粋）：

二次電池に接続して前記二次電池の充電放電試験を行う二次電池試験装置であって、充電のための充電電力を供給する電源部と、放電のための放電電力を回収する負荷部と、前記二次電池に流れる電流を検出する電流検出部と、前記二次電池の電圧を検出する電圧検出部と、前記電源部,前記負荷部,前記電流検出部及び前記電圧検出部の動作を予め定めた所定時間の単位で時間制御する制御部を有することを特徴とする二次電池試験装置。

IPC (4件)：

H01M 10/42 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00

FI (4件)：

H01M 10/42 P ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Q

Fターム (26件)：

2G016CA03 ,  2G016CB01 ,  2G016CB13 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC02 ,  2G016CC07 ,  2G016CC23 ,  2G016CC24 ,  2G016CC27 ,  5G003AA01 ,  5G003BA01 ,  5G003CA01 ,  5G003CA11 ,  5G003CC02 ,  5G003DA07 ,  5G003EA09 ,  5G003GC05 ,  5H030AA01 ,  5H030AS08 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF52