特許

J-GLOBAL ID：200903004314541210

光干渉による分析対象の検出装置およびその方法

発明者： グレゴリー・アール・ボガート ,  ギャレット・アール・モデル ,  ダイアナ・エム・モウル ,  ジェフリー・ビー・イッター ,  マーク・クロスビー ,  ジョン・ビー・ミラー ,  ジェームズ・ブレッシング ,  ハワード・ケリー ,  トールビヨルン・サンドストレム ,  ラーシュ・スティブレルト
出願人/特許権者： サーモ バイオスター インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 青山 葆 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-236186
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116208
出願日： 1993年06月10日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 試料中の分析対象物の光学的分析方法および関連器具/装置を提供すること。【解決手段】 薄膜デバイスを使用し、その基質上の結合層に対する分析対象物の結合前後の表面に当る光のスペクトル変化を通して試料中の分析対象物を検出する。

請求項（抜粋）：

(i)ガラス、プラスチック、シリコンおよび無定形シリコンから選択される基板、(ii)窒化珪素、シリコン/二酸化珪素複合材、チタン酸塩、炭化珪素、ダイヤモンド、硫化カドミウムおよび二酸化チタンから選択された反射防止層、(iii)高分子シラン、シロキサン、膜形成性ラテックスおよびデンドリマーから選択される付属層、および(iv)被検体に対して特異的な結合層を含む被検体の光学アッセイ装置。

IPC (7件)：

G01N 33/543 595 ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/21 ,  G01N 33/545 ,  G01N 33/551 ,  G01N 33/552 ,  G01N 33/553

FI (7件)：

G01N 33/543 595 ,  G01B 11/06 G ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 33/545 Z ,  G01N 33/551 ,  G01N 33/552 ,  G01N 33/553

Fターム (34件)：

2F065BB00 ,  2F065FF50 ,  2F065FF51 ,  2F065GG02 ,  2F065GG04 ,  2F065GG05 ,  2F065GG07 ,  2F065GG22 ,  2F065GG23 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL22 ,  2F065LL33 ,  2F065LL46 ,  2G059AA01 ,  2G059AA10 ,  2G059BB10 ,  2G059BB13 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059DD04 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK02 ,  2G059KK04

引用特許：

出願人引用 (10件)

• 特開昭63-078052
  
• 特開平2-001557
  
• 特開昭64-043758
  
• 特開昭62-058141
  
• 特開昭63-201507
  
• 特開昭59-120928
  
• 特開昭60-196651
  
• 特開平2-126106
  
• 特開昭64-023126
  
• 特開平2-129503
  

審査官引用 (1件)

• 特開昭63-078052