特許
J-GLOBAL ID:200903004353505832
高周波超音波探傷法による連続鋳造鋳片の疵検査方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三浦 祐治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-071622
公開番号(公開出願番号):特開平9-257762
出願日: 1996年03月27日
公開日(公表日): 1997年10月03日
要約:
【要約】【課題】 高周波超音波探傷法を用いて、連続鋳造鋳片の表面又は幅方向切断面近傍に存在する欠陥を、鋳片の全長又は切断面全体にわたって迅速に検査し、これにより薄板製品の表面疵の発生率を確実に予測する方法を提供する。【解決手段】 鋳片の全幅又は一定の幅で鋳片長さ方向に鋳片表面を研削し、この鋳片を長さ方向に連続的に移動させながら、探触子を鋳片の幅方向に連続スキャンして、所定の時間間隔で超音波探傷を行い、鋳片深さ方向の一定範囲内で欠陥が検出される確率を求め、該欠陥検出確率より圧延後の薄板製品の疵の発生率を予測する。また、鋳片の幅方向切断面についても、同様の手法で欠陥検出確率を求めて、製品の疵発生率の予測に利用する。
請求項(抜粋):
連続鋳造機で鋳造した鋳片を圧延して薄板製品を製造する工程において、鋳片の全幅又は一定の幅で鋳片長さ方向に鋳片表面を研削し、該研削された鋳片を鋳片長さ方向に連続的に移動させながら、探触子を研削面上で鋳片幅方向に連続スキャンして、所定の時間間隔で高周波の超音波による超音波探傷を行い、鋳片深さ方向の探傷範囲を鋳片表面から5mm深さ迄の一定範囲に設定して、該探傷範囲内で欠陥が検出される確率を求め、該欠陥検出確率より圧延後の薄板製品の疵の発生率を予測することを特徴とする、高周波超音波探傷法による連続鋳造鋳片の疵検査方法。
IPC (3件):
G01N 29/10 504
, G01N 29/04 501
, G01N 29/22 501
FI (3件):
G01N 29/10 504
, G01N 29/04 501
, G01N 29/22 501
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