特許
J-GLOBAL ID：200903004362516758
波形品質評価システム及び波形品質評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
曾我 道照
, 曾我 道治
, 古川 秀利
, 鈴木 憲七
, 梶並 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-153306
公開番号（公開出願番号）：特開2004-357050
出願日： 2003年05月29日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：
【課題】波形があらわす形そのものの特徴に基づいて波形の品質を評価することが可能な波形品質評価システムを得る。【解決手段】オシロスコープ2と波形品質評価装置3を備え、この波形品質評価装置3に記憶手段32およびCPU36を設ける。記憶手段32は、波形評価値算出基準を格納するとともに、波形の評価値に対応する調整パラメータを格納する。そして、オシロスコープ2は、DUT1で設定された調整パラメータに基づく波形を入力してこの波形をサンプリングする。また、CPU36は、サンプリングされた波形の特徴量を算出するとともに、波形評価値算出基準を参照して特徴量に基づく評価値を算出し、算出後における評価値に対応する調整パラメータをDUT1へ出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
波形の特徴量に基づいて前記波形の評価値を算出するための基準である波形評価値算出基準を格納するとともに、前記評価値に対応する調整パラメータを格納する記憶手段と、
被測定物で設定された調整パラメータに基づく波形を入力し、この波形をサンプリングするサンプリング手段と、
サンプリング後における波形があらわす形に基づいて前記波形の特徴量を算出するとともに、前記波形評価値算出基準を参照して算出後における特徴量に基づいて前記波形の評価値を算出し、前記記憶手段を参照して算出後における評価値に対応する調整パラメータを探索し、探索後における調整パラメータを前記被測定物へ出力する処理手段と
を備えたことを特徴とする波形品質評価システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L25/02 302B
, G01R13/20 L
