試料検査のための方法および装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松田省躬
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-505779
公開番号（公開出願番号）：特表2005-526255
出願日： 2003年05月14日
公開日（公表日）： 2005年09月02日
要約：

【課題】画像形成顕微鏡システム、それも特にレーザ走査型顕微鏡による蛍光性試料の検査のための方法および/または装置【解決手段】試料が少なくとも1つの切断面で点状または線状に走査され、走査の間試料から発せられるビームが分散および分解され、分解されたビームが少なくとも1組の検出素子DEにより波長別に検出され、これらの検出素子DIの少なくとも1つおよび/またはその他検出素子の少なくとも1つにより記録および保存された強度分布を手掛かりとして、試料から反射したビームに関し、予備保存された2次元または3次元の幾何学形状対象物に相当する、または類似する2次元または3次元の試料部分の選択が画像加工を通して行われる、およびこれら試料領域の少なくとも一部について、それらに配置された蛍光マーカーを基にスペクトル像および/または立体スペクトル配列の分析が行われる方法および/または装置。

請求項（抜粋）：

画像形成顕微鏡システム、それも特にレーザ走査型顕微鏡による蛍光性試料の検査のための方法および/または装置であって; 試料が少なくとも1つの切断面で点状または線状に走査され、走査の間試料から発せられるビームが分散および分解され、分解されたビームが少なくとも1組の検出素子により波長別に検出され、これらの検出素子の少なくとも1つおよび/またはその他検出素子の少なくとも1つにより記録および保存された強度分布を手掛かりとして、試料から反射したビームに関し、予備保存された2次元または3次元の幾何学形状対象物に相当する、または類似する2次元または3次元の試料部分の選択が画像加工を通して行われる、およびこれら試料領域の少なくとも一部について、それらに配置された蛍光マーカーを基にスペクトル像および/または立体スペクトル配列の分析が行われる方法および/または装置。

IPC (2件)：

G01N21/64 , G02B21/00

FI (2件)：

G01N21/64 E , G02B21/00

Fターム (22件)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043FA02 , 2G043GA08 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA05 , 2G043HA09 , 2G043JA04 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2H052AA08 , 2H052AA09 , 2H052AC04 , 2H052AC15 , 2H052AC26 , 2H052AC34 , 2H052AF07

引用特許：

審査官引用 (2件)

生物学研究、医療診断および治療用の分光生物撮像法、蛍光交配方法および細胞分類方法
公報種別：公表公報出願番号：特願平9-522259 出願人：スペクトラルダイアグノスティックリミテッド
多数の蛍光色素の定量像化のための装置
公報種別：公表公報出願番号：特願平6-517853 出願人：アスルンド,ニルス・エル・デー, カールソン,クイュル・エス

引用文献：

審査官引用 (2件)

Graphical User Interface for Single-Pixel Spectroscopy
Fluorescence Imaging Micro-Spectrophotometer (FIMS)

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