特許
J-GLOBAL ID：200903004383341540
機械走査型超音波診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-023320
公開番号（公開出願番号）：特開平8-191833
出願日： 1995年01月19日
公開日（公表日）： 1996年07月30日
要約：
【要約】【目的】機械走査後に行う精密検査時の再設定時間を短縮し、操作時間の低減を図るとともに診断効率の向上を図ることにある。【構成】予め精密検査用の走査範囲や走査間隔をリモートスイッチ12で設定する。スタートボタン13を押して機械走査を開始すると、探触子1が一定のシフト幅で機械走査され複数の断層像をモニタ11に表示される。モニタ11に精密検査をしたい部分の画像が表示されたときに、マークボタン14を押しこの位置を記憶回路9に記憶させる。この機械走査終了後、制御回路10により探触子1は記憶回路9の記憶位置を基準としてより細かい間隔で再度機械走査を行う。これにより、再設定の時間を短縮でき診断効率が向上する。
請求項（抜粋）：
被検体に対して超音波ビームを送受信する探触子と、前記探触子からの受信信号を画像処理し断層像を表示する表示手段と、被検体の検査部位に当接させる水袋及び前記探触子を支持する支持手段と、前記探触子を被検体の検査部位周辺の任意範囲及び間隔で第一の機械走査を行い複数の断層像を得る第一の制御手段とを有する機械走査型超音波診断装置において、上記第一の機械走査時の任意の探触子位置を記憶する記憶手段と、第一の機械走査終了後に前記探触子を前記記憶手段の記憶位置を基準にして予め設定した任意の範囲かつ第一の機械走査時より細かい間隔で第二の機械走査を行う第二の制御手段を備えたことを特徴とする機械走査型超音波診断装置。
IPC (2件)：
A61B 8/00
, G01N 29/26 501
