特許

J-GLOBAL ID：200903004392018868

測定機器の情報管理方法

発明者： 石田 俊昭
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-173548
公開番号（公開出願番号）：特開2001-004412
出願日： 1999年06月21日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：

【要約】【課題】 測定機器に関する情報を簡単にしかも確実に管理可能として、測定機器の品質を維持管理する。【解決手段】 測定機器に関する校正データを含む情報をQRコード等の二次元コードに変換し、この二次元コードをレーザーマーキング装置で測定機器の本体表面に描画する。

請求項（抜粋）：

測定機器に関する情報を二次元コード化し、この二次元コードを前記測定機器の本体表面に表示することを特徴とする測定機器の情報管理方法。

IPC (6件)：

G01D 11/00 ,  G01B 3/18 ,  G01B 3/20 ,  G01B 3/22 ,  G01D 18/00 ,  G06K 7/00

FI (6件)：

G01D 11/00 Z ,  G01B 3/18 ,  G01B 3/20 B ,  G01B 3/22 P ,  G01D 18/00 ,  G06K 7/00 U

Fターム (12件)：

2F061AA16 ,  2F061DD27 ,  2F061JJ95 ,  2F061JJ97 ,  2F061QQ00 ,  2F061RR00 ,  2F061SS00 ,  2F061VV51 ,  2F076AA18 ,  5B072CC16 ,  5B072CC21 ,  5B072DD02