特許

J-GLOBAL ID：200903004396398592

電子部品のテスト方法およびテスト装置並びに取引方法

発明者： 佐藤 正幸
出願人/特許権者： 株式会社ルネサステクノロジ
代理人 (1件)： 大日方 富雄
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001009675
公開番号（公開出願番号）：WO2003-040741
出願日： 2001年11月06日
公開日（公表日）： 2003年05月15日
要約：

テストデータを供給する側では、データ列をnサイクル(nは正の整数)すなわちnビットごとに分割して連続するnビットのデータ同士の変位を求め、それを「n2」で割った余りを、出力状態“Z”,“0”,“1”で表わされるデータに変換させることでデータを圧縮して供給し、データを受ける側では受け取ったデータを伸長して元のデータを復元し、この伸長されたテストデータに基づいて電子部品をテストするようにした。

請求項（抜粋）：

テストデータをモード変換圧縮により形成し、このモード変換圧縮されてなるテストデータを伸長展開して、この伸長展開されたテストデータにより電子部品のテストを行なうようにしたことを特徴とするテスト方法。

IPC (3件)：

G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  H01L21/66

FI (3件)：

G01R31/28 Q ,  H01L21/66 B ,  G01R31/28 H