特許

J-GLOBAL ID：200903004406893856

X線装置の焦点-検出器システム

発明者： クリスチアン ダーフィット ,  ビェルン ハイスマン ,  エクハルト ヘンペル ,  フランツ プファイファー ,  シュテファン ポペスク
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-020093
公開番号（公開出願番号）：特開2007-203062
出願日： 2007年01月30日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：

【課題】単純な構造を可能とする焦点-検出器システムを提供する。【解決手段】投影または断層撮影による位相コントラスト画像を作成するためのX線装置の焦点-検出器システムにおいて、焦点とビーム路中に配置されかつビームごとにコヒーレントX線ビームの場を作成する焦点側線源格子とを備えたX線ビーム源と、線源格子に対して平行に配置され干渉パターンを作成する格子線を備えた位相格子と、位相格子の後方で位置に依存するX線強度を測定するために平面状に配置された多数の検出素子(Ei)を備えた検出器とを有する格子-検出器装置とを少なくとも備え、検出素子(Ei)が、位相格子の格子線に対して平行に向いた多数の縦長のシンチレーション条帯(SSi)から形成されかつ小周期を有し、この小周期の整数倍が、位相格子によって形成される干渉パターンの平均的大周期に一致する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

投影または断層撮影による位相コントラスト画像を作成するためのX線装置の焦点-検出器システムにおいて、 焦点(F1)とビーム路中に配置されかつビームごとにコヒーレントX線ビーム(Si)の場を作成する焦点側線源格子(G0)とを備えたX線ビーム源(2)と、 線源格子(G0)に対して平行に配置され干渉パターンを作成する格子線を備えた位相格子(G1)と、位相格子(G1)の後方で位置に依存するX線強度を測定するために平面状に配置された多数の検出素子(Ei)を備えた検出器(D1)とを有する格子-検出器装置と を少なくとも備え、 検出素子(Ei)が、位相格子(G1)の格子線に対して平行に向いた多数の縦長のシンチレーション条帯(SSi)から形成されかつ小周期(pS)を有し、この小周期(pS)の整数倍が、位相格子(G1)によって形成される干渉パターンの平均的大周期(p2)に一致することを特徴とするX線装置の焦点-検出器システム。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (1件)：

A61B6/03 320P

Fターム (3件)：

4C093EA11 ,  4C093EB16 ,  4C093EB24