特許
J-GLOBAL ID：200903004422658638

核酸を分析する装置、およびそれを用いた核酸を分析する方法

発明者：
西矢 芳昭

西矢 芳昭 について

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池田 勝徳

池田 勝徳 について

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岸本 幹雄

岸本 幹雄 について

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梅林 信弘

梅林 信弘 について


出願人/特許権者：
東洋紡績株式会社

東洋紡績株式会社 について

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日立マクセル株式会社

日立マクセル株式会社 について


代理人 (1件)： 高島 一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-371937
公開番号（公開出願番号）：特開2003-169661
出願日： 2001年12月05日
公開日（公表日）： 2003年06月17日
要約：
【要約】【課題】 安価であり、簡便であって、かつ微小化し得る、目的とする核酸を含有する試料から核酸を抽出精製して分析する装置および方法を提供すること。【解決手段】 以下の(a)〜(d)の手段を有する、試料中の核酸を分析する装置および該装置を用いた分析方法。(a)強磁性金属酸化物およびシリカを有する磁気応答粒子に試料を接触させて、試料中の核酸と磁気応答粒子とを吸着させる処理を行う手段、(b)磁場をかけて、前記核酸が吸着した磁気応答粒子を試料から分離する処理を行う手段、(c)電場をかけて、核酸を磁気応答粒子から分離する処理を行う手段、(d)前記磁気応答粒子から分離した核酸を増幅する処理を行う手段。
請求項（抜粋）：
以下の(a)〜(d)の手段を有する、試料中の核酸を分析する装置。(a)強磁性金属酸化物およびシリカを有する磁気応答粒子に試料を接触させて、試料中の核酸と磁気応答粒子とを吸着させる処理を行う手段、(b)磁場をかけて、前記核酸が吸着した磁気応答粒子を試料から分離する処理を行う手段、(c)電場をかけて、核酸を磁気応答粒子から分離する処理を行う手段、(d)前記磁気応答粒子から分離した核酸を増幅する処理を行う手段。
IPC (8件)：
C12M 1/00 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 27/447 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/533 ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 101
FI (9件)：
C12M 1/00 A ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/48 A ,  G01N 33/53 M ,  G01N 33/533 ,  G01N 33/566 ,  G01N 37/00 101 ,  G01N 27/26 315 K ,  G01N 27/26 325 B
Fターム (33件)：
2G045BA11 ,  2G045BA13 ,  2G045BB03 ,  2G045BB50 ,  2G045CA25 ,  2G045CB01 ,  2G045CB21 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045FA19 ,  2G045FA36 ,  2G045FB02 ,  2G045FB05 ,  2G045FB12 ,  2G045FB13 ,  2G045GC10 ,  2G045JA01 ,  2G045JA07 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029FA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA12 ,  4B063QA13 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR55 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QX02
引用特許：
出願人引用 (4件)
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