特許
J-GLOBAL ID:200903004443035789

合焦平面アレー補償技術を含む光学システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 湯浅 恭三 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-240351
公開番号(公開出願番号):特開平7-222059
出願日: 1994年10月04日
公開日(公表日): 1995年08月18日
要約:
【要約】【目的】 固定パターン・ノイズを減少させる合焦システムを提供する。【構成】 それぞれが表面を有する光検出器のアレー(12)と、電磁気的赤外線エネルギのビームを光検出器の少なくとも1つの表面上で合焦する合焦システム(10)と、を備えた画像化光学システムが開示されている。この合焦システム(10)は、更に、電磁気的赤外線エネルギのビームを光検出器の少なくとも1つの表面上で周期的にデフォーカスする技術も含んでいる。
請求項(抜粋):
画像化光学システムにおいて、(a)それぞれが表面を有する光検出器のアレーと、(b)前記光検出器の少なくとも1つの前記表面上で、電磁気エネルギのビームを合焦及び周期的にデフォーカスする手段と、を備えていることを特徴とする画像化光学システム。
IPC (3件):
H04N 5/33 ,  H03H 17/02 ,  H04N 5/232
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平2-206976
  • 特開平2-206976

前のページに戻る