特許
J-GLOBAL ID：200903004477836845
分析方法及び分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-071129
公開番号（公開出願番号）：特開2005-257548
出願日： 2004年03月12日
公開日（公表日）： 2005年09月22日
要約：
【課題】 自動連続分析において分析スケジュールや分析条件を入力するのにかかる手間を短縮し、それに伴なう誤分析を防止する。 【解決手段】 RFID12が埋込み又は付加された試料容器は所定の設置位置にセットされる。制御装置4は情報読取り/書込み部10を介してRFID12から情報を読み取り、その情報をデータ解析処理部6に送信する。データ解析処理部6は制御装置4から送信された情報に基づいた分析条件や分析スケジュールをデータベース8から読み出し、制御装置4に送信する。制御装置4はその分析メソッドに基づいて分析装置2の分析動作を制御する。分析装置2が得た分析データはデータ解析処理部6に送信され、データ解析処理部6で分析データの解析が行なわれる。解析結果はデータ解析処理部6から制御装置4に送られ、さらに制御装置4から情報読取り/書込み部10を介してRFID12に書き込まれる。 【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
分析装置又は外部の記憶装置にID情報に対応した分析条件及び分析スケジュールを記憶させ、前記分析装置に設置する試料容器に非接触型ICタグを埋込み又は付加してその非接触型ICタグに試料容器に収容されている試料のID情報を記憶させ、分析する際は前記非接触型ICタグに記憶されているID情報を読み取ってそのID情報に対応した分析条件及び分析スケジュールを前記記憶装置から読み出し、読み出した分析条件及び分析スケジュールに基づいて分析を行なうことを特徴とする分析方法。
IPC (5件)：
G01N35/00
, G01N30/02
, G01N30/24
, G01N30/86
, G01N35/02
G01N35/00 E
, G01N30/02 Z
, G01N30/24 Z
, G01N30/86 G
, G01N30/86 Q
, G01N35/02 C
2G058CB08
, 2G058GA14
, 2G058GC03
, 2G058GC05
, 2G058GD00
, 2G058GE02
, 2G058GE06
出願人引用 (1件)
-
自動試料注入装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-174141
出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (3件)
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