特許

J-GLOBAL ID：200903004531457740

電子透かし抽出方法及び装置及びプログラム及び記憶媒体

発明者： 田丸 淳 ,  岩村 恵市
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 西山 恵三 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-045827
公開番号（公開出願番号）：特開2003-338924
出願日： 2003年02月24日
公開日（公表日）： 2003年11月28日
要約：

【要約】【課題】 2値画像の状態で電子透かしの埋め込みが施された後、一旦多値画像(グレースケール画像)に変化した画像データから、電子透かしを精度良く抽出する。【解決手段】 原稿中の電子透かしを抽出する電子透かし抽出装置であって、前記原稿を所定読み取り部で読み取ることにより得られた多値画像データを取得する取得部と、複数の閾値から1つの閾値を選択し、選択された閾値を用いて前記多値画像データ2値化する前処理部と、該前処理部にて2値化された画像データから電子透かしを抽出する抽出部とを備え、前記閾値の選択、2値化、前記電子透かしの抽出とを繰り返し行い、最適な電子透かし抽出結果を得ることを特徴とする電子透かし抽出装置。

請求項（抜粋）：

2値画像の状態で電子透かしが埋め込まれた画像を表す画像データであり、かつ、該埋め込み後に多値化されて得られた多値画像データを取得する取得ステップと、2値化用の複数の閾値を1つ選択し、選択された閾値を用いて前記多値画像データ2値化する前処理ステップと、該前処理ステップにて2値化された2値画像データから電子透かしを抽出する抽出ステップと、前記複数の閾値から未選択の閾値を選択して2値化を実行し、かつ、該2値化で得られた2値画像データの解析を実行することを複数回繰り返し、該繰り返しにより得られえた複数の解析結果から所定基準を満たす解析結果を特定し、特定された解析結果に対応する閾値を用いて2値化された2値画像データから抽出された電子透かしに基づいて最終的な電子透かしを特定し、該電子透かしを出力する出力ステップとを備えることを特徴とする電子透かし抽出方法。

IPC (5件)：

H04N 1/387 ,  B41J 5/30 ,  B41J 29/00 ,  G03G 21/04 ,  G06T 1/00 500

FI (5件)：

H04N 1/387 ,  B41J 5/30 Z ,  G06T 1/00 500 B ,  G03G 21/00 554 ,  B41J 29/00 Z

Fターム (30件)：

2C061AP01 ,  2C061AP03 ,  2C061AP04 ,  2C061CL10 ,  2C187AE07 ,  2C187GB02 ,  2C187GD06 ,  2C187GD10 ,  2H134NA01 ,  2H134NA15 ,  5B057AA11 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE08 ,  5B057CE12 ,  5B057DA20 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC03 ,  5B057DC16 ,  5C076AA14 ,  5C076BA06