特許
J-GLOBAL ID：200903004564792056
測距用受光装置及びその製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-244621
公開番号（公開出願番号）：特開平10-093116
出願日： 1996年09月17日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 ホルダーなどの他部品と受光素子との相対位置精度を向上させる。【解決手段】 プリント基板1上に固定された封止枠3の一隅(被認識部)3a画像認識することにより、封止枠3の位置を検知し、これを基準に封止枠3の内側の所定の搭載位置を決定し、そこに受光素子2を搭載する。そして、封止枠3の内側に封止剤4を注入・固化し、受光素子2を封止する。これをホルダーなどの他部品に取り付ける際には、封止枠3に形成された取付手段6a,6bに他部品のピンを挿通させ固定する。受光素子2の搭載も他部品への取付もいずれも封止枠3を基準としているので、受光素子2は他部品に対し相対位置精度よく取り付けられる。
請求項（抜粋）：
プリント基板と、上記プリント基板上に固定されている封止枠と、上記封止枠内に搭載されている受光素子と、上記封止枠内部に注入され上記受光素子を封止する封止剤とを有し、上記封止枠には、上記封止枠内における上記受光素子の位置を求めるために画像処理により認識可能な被認識部と、ホルダーなどの他部品に対し位置決めするための取付手段とが設けてあることを特徴とする測距用受光装置。
IPC (4件)：
H01L 31/02
, G01B 11/00
, G02B 7/28
, H01L 31/16
H01L 31/02 B
, G01B 11/00 H
, H01L 31/16 B
, G02B 7/11 Z
