特許
J-GLOBAL ID：200903004566610460

配光パターン中心の検出方法

発明者：
大川 正夫

大川 正夫 について


出願人/特許権者：
株式会社小糸製作所

株式会社小糸製作所 について


代理人 (1件)： 鈴木 章夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-009527
公開番号（公開出願番号）：特開2007-190986
出願日： 2006年01月18日
公開日（公表日）： 2007年08月02日
要約：
【課題】 ヘッドランプのロービームパターン中心(エルボポイント)を検出し、エイミングテストを高精度に行うことを可能にした配光パターン中心の検出方法を提供する。【解決手段】 中心EPを通り水平方向に延びる水平カットラインHCと、中心EPを通り所要の角度で反対方向に延びる斜めカットラインDCとを有するロービームパターンLBPの中心EPを検出する検出方法であって、ロービームパターンLBPの鉛直方向の光度の違いに基づいて水平カットラインHCを検出し、検出した水平カットラインHCに沿って水平方向に隣接した2つのゾーンZL,ZRの各光量が所定の関係となる水平方向の位置を検出し、これをロービームパターンLBPの中心EPとして検出する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
配光パターンの中心を通りほぼ水平方向に延びる水平カットラインと、前記中心を通り水平方向に対して所要の角度で前記水平カットラインとは反対方向に延びる斜めカットラインとを有する配光パターンの前記中心を検出する検出方法であって、前記配光パターンの鉛直方向の光度の違いに基づいて前記水平カットラインを検出する工程と、検出した水平カットラインに沿って水平方向に隣接した2つのゾーンの各光量が所定の関係となる水平方向の位置を検出する工程とを含み、前記水平カットライン上の前記水平方向の位置を配光パターンの中心として検出することを特徴とする配光パターン中心の検出方法。
IPC (1件)：
B60Q 11/00
FI (2件)：
B60Q11/00 610B ,  B60Q11/00 615A
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)
  • 特開昭60-149942
  • 特開昭60-008730
  • 特開平4-025741

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