特許

J-GLOBAL ID：200903004662443973

測定用治具

発明者： 古田 匡智
出願人/特許権者： アジレント・テクノロジー株式会社
代理人 (1件)： 加藤 公久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-277504
公開番号（公開出願番号）：特開2000-105262
出願日： 1998年09月30日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：

【要約】【課題】被測定デバイスが、より寸法の小さい表面実装型の部品であっても測定可能であり、また、測定端子とDUT電極との再接続ごとに測定値が変化することの無い測定用治具を提供する。【解決手段】本発明の一実施例によれば、固定測定端子と可動測定端子とをそれぞれが有する第1、第2の測定端子ブロックを備えた測定用治具が提供される。これらの測定端子はDUT置き台に載置されたDUTのそれぞれ対応する電極に接触される。固定測定端子は絶縁体を介して導電性ブロックに固定される。可動測定端子は、導電性外殻と、外殻の中に挿着された導電性可動ピンと、外殻の中に配置され可動ピンをばね付勢するためのバネとを有し、可動ピンは外部から印加される圧力に応じて外殻に対し伸縮する。外殻は導電性ソケットに挿着され、導電性ソケットは導電性ブロックの開口に挿着された絶縁体を貫通して挿着され、導電性ブロックとの間で同軸構造を形成する。

請求項（抜粋）：

被測定デバイス(DUT)の電極に接触して信号の受け渡しを行う測定端子を有する第1、第2の測定端子ブロックを備えて成り、前記各測定端子ブロックは、長さが伸縮不能な固定測定端子と、伸縮可能な可動測定端子とを有していることを特徴とする測定用治具。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/00 ,  G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 27/00 ,  G01R 31/26 J ,  G01R 31/28 J

Fターム (23件)：

2G003AA00 ,  2G003AG00 ,  2G003AG03 ,  2G003AG12 ,  2G028AA04 ,  2G028BB01 ,  2G028BB06 ,  2G028BB07 ,  2G028BB20 ,  2G028CG06 ,  2G028CG07 ,  2G028CG08 ,  2G028HN08 ,  2G028HN11 ,  2G032AA00 ,  2G032AB02 ,  2G032AF02 ,  2G032AL03 ,  2G036AA27 ,  2G036BB01 ,  2G036BB02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA09