オブジェクト指向開発用テスト支援方法および装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川眞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-080182
公開番号（公開出願番号）：特開2002-278795
出願日： 2001年03月21日
公開日（公表日）： 2002年09月27日
要約：

【要約】【課題】オブジェクト指向開発で作成されたテスト対象について複数のテストケースによるテストを効率良く実施可能にすること。【解決手段】テスト対象オブジェクトに対する複数のテストケースと該複数のテストケースに共通する処理を行うドライバ情報とを含むテストデータを作成するステップと、前記テストデータ中の複数のテストケース毎の入力値および期待値を取得するステップと、前記テストデータからテストドライバ情報を取得し、該テストドライバ情報で指定されたテストドライバに前記入力値および期待値を入力し、テストケース毎のテストを実行するステップと、テスト結果を出力するステップとを備える。

請求項１：

オブジェクト指向プログラム開発で作成されたテスト対象オブジェクトのテストを支援するオブジェクト指向開発用テスト支援方法であって、テスト対象オブジェクトに対する複数のテストケースと該複数のテストケースに共通する処理を行うドライバ情報とを含むテストデータを作成するステップと、前記テストデータ中の複数のテストケース毎の入力値および期待値を取得するステップと、前記テストデータからテストドライバ情報を取得し、該テストドライバ情報で指定されたテストドライバに前記入力値および期待値を入力し、テストケース毎のテストを実行するステップと、テスト結果を出力するステップとを備えたことを特徴とするオブジェクト指向開発用テスト支援方法。

IPC (3件)：

G06F 11/28 340 , G06F 11/36 , G06F 9/44 530

FI (3件)：

G06F 11/28 340 A , G06F 9/44 530 P , G06F 9/06 620 R

Fターム (7件)：

5B042GA08 , 5B042HH12 , 5B042HH17 , 5B042MC00 , 5B076DD04 , 5B076EC05 , 5B076EC10

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平4-158454
プログラムのテストシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-310335 出願人：日本電気株式会社, 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
特開平2-230433

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