特許

J-GLOBAL ID：200903004668016635

超電導線材の臨界電流測定方法及びその測定装置

発明者： 大圃 一実 ,  笹岡 高明
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 松本 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-003719
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197468
出願日： 1997年01月13日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】本発明の課題は、非破壊試験が可能で且つ非接触測定が可能でしかも長手方向の測定位置精度が高い超電導線材の臨界電流測定方法及びその測定装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、次の2点にある。?@.磁場印加機構間に、両端部に電流端子及び電圧端子を取り付けた超電導線材の中間部を一定長さ区間毎に間欠的に順次送り出し、該超電導線材の全長の臨界電流をその都度測定することを特徴とする超電導線材の臨界電流測定。?A.長尺の超電導線材の両端部に取り付けられる電流端子及び電圧端子と、前記長尺の超電導線材の一定長さ区間毎に長手方向に順次磁場を加えることができる磁場印加機構と、前記超電導線材の全長の臨界電流を測定する装置とから成ることを特徴とする超電導線材の臨界電流測定装置。

請求項（抜粋）：

磁場印加機構間に、両端部に電流端子及び電圧端子を取り付けた超電導線材の中間部を一定長さ区間毎に間欠的に順次送り出し、該超電導線材の全長の臨界電流をその都度測定することを特徴とする超電導線材の臨界電流測定方法。

IPC (3件)：

G01N 27/04 ,  G01R 31/00 ZAA ,  G01R 33/12 ZAA

FI (3件)：

G01N 27/04 Z ,  G01R 31/00 ZAA ,  G01R 33/12 ZAA Z