3次元形状測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：稲本義雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-171744
公開番号（公開出願番号）：特開平5-340709
出願日： 1992年06月05日
公開日（公表日）： 1993年12月21日
要約：

【要約】【目的】迅速かつ正確に、任意の形状の3軸の座標を測定する。【構成】可撓性を有する膜1に多数の検出コイル2をマトリックス状に配列し、これを導電性ゴム3で接続する。検出コイル2の所定の1つを活性化し、3軸直交ソースコイル5によりX,Y,Z軸方向の交流磁界を順次発生させる。そして、その場合における検出コイル2の出力を演算装置6で処理し、X,Y,Z軸方向の座標を求める。

請求項（抜粋）：

可撓性を有する膜上に複数の検出コイルが配列された検出手段と、前記検出コイルに対して印加する3軸方向の交流磁界を発生する磁界発生手段と、前記交流磁界が印加されたときの前記検出コイルの出力から、その3軸の座標を演算する演算手段とを備えることを特徴とする3次元形状測定装置。

IPC (6件)：

G01B 7/28 101 , G01B 7/00 , G01B 7/30 101 , G06F 3/03 325 , G06F 3/03 380 , G06F 15/64

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