特許

J-GLOBAL ID：200903004746139706

IC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体

発明者： 石田 峰紀
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-324215
公開番号（公開出願番号）：特開2002-131386
出願日： 2000年10月24日
公開日（公表日）： 2002年05月09日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のICを組み合わせて試験を行うことにより、IC試験の信頼性と生産性を向上したIC試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。【解決手段】 複数のICから構成される被試験体Wを試験して判定結果を出力するIC試験装置1において、複数のICの中から、任意のICを組み合わせ対象として設定する組み合わせ設定部2と、所定の判定基準に従って、組み合わせ設定部2により設定された任意のICを組み合わせて試験する測定部4と、任意のICの組み合わせ内の、各IC個別の判定結果から共通の判定結果を求める機能とその判定結果を出力する表示部6と、判定結果を記録蓄積する記録部7と、を備えて構成される。

請求項（抜粋）：

複数のICを試験して判定結果を出力するIC試験装置において、前記複数のICの中から、任意のICを組み合わせ対象として設定する設定手段と、所定の判定基準に従って、前記設定手段により設定された任意のICを組み合わせて試験する試験手段と、この試験手段による前記任意のICの組み合わせ内の、各IC個別の判定結果から共通の判定結果を出力する出力手段と、を備えることを特徴とするIC試験装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (3件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 Y

Fターム (19件)：

2G003AA07 ,  2G003AF02 ,  2G003AF06 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  2G003AH03 ,  2G003AH04 ,  2G003AH05 ,  2G032AA09 ,  2G032AB03 ,  2G032AC03 ,  2G032AE08 ,  2G032AE09 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AG02 ,  2G032AK13 ,  2G032AK14 ,  2G032AL11