特許
J-GLOBAL ID：200903004761069030
デイジタルハイウエイインタフエース試験方式
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-217702
公開番号（公開出願番号）：特開平5-063806
出願日： 1991年08月29日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：
【要約】【構成】被試験A装置10を試験装置1に接続して試験するときは、試験装置1の試験データ送出部30からデータ長がAビットの試験データをINFA11の実際の使用時のデータ速度とは異なるデータ速度cビット/秒でINFA11に送出して試験を行う。また被試験B装置20を試験するときは、同様にデータ長がBビットの試験データをINFB21の実際の使用時のデータ速度とは異なるデータ速度cビット/秒でINFB21に送出して試験を行う。【効果】被試験装置のデータ構成およびデータ速度の種類毎に合わせた被試験装置対応の試験装置を用意する必要がなく、データ構成を可変できる1種類の試験装置を用意すれば良い。
請求項（抜粋）：
試験装置はディジタルハイウェイインタフェースを持つ被試験装置に送出する試験データの速度のみを実際の使用時の速度と異なる速度で送出する手段を備えることを特徴とするディジタルハイウェイインタフェース試験方式。
IPC (2件)：
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