特許
J-GLOBAL ID：200903004841636440
ミキサの歪み測定方法及びミキサの歪み解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-144077
公開番号（公開出願番号）：特開2002-340947
出願日： 2001年05月15日
公開日（公表日）： 2002年11月27日
要約：
【要約】【課題】 ミキサを構成する素子毎に相互変調歪みを分離して測定することを可能にし、それによってミキサのどの部分で相互変調歪みが発生しているのかを解析できるようにする。【解決手段】 LO信号の周波数よりも大きい周波数RF1(=LO+IF-Df)を有するRF信号と、LO信号の周波数よりも小さい周波数RF3(=LO-IF-Df=RF1-2IF)を有するRF信号とをRF端子に同時に入力することによって、IF端子から出力されるIF信号(周波数IF1(=RF1-LO=IF-Df)及びIF2(=LO-RF3=IF+Df=IF1+2Df))に対して生じる相互変調歪み(周波数IM3l(=2×IF1-IF2=IF1-2Df)及びIM3u(=2×IF2-IF1=IF2+2Df))を測定する。
請求項（抜粋）：
高周波信号が入力される第1の端子と、局部発信信号が入力される第2の端子と、前記高周波信号を増幅する第1の増幅部と、前記第1の増幅部により増幅された前記高周波信号及び前記局部発信信号を前記各信号の周波数の差を周波数として有する中間周波信号に変換するミキサ部と、前記中間周波信号を増幅する第2の増幅部と、前記第2の増幅部により増幅された前記中間周波信号が出力される第3の端子とを備えたダウンミキサに生じる相互変調歪みを測定するためのミキサの歪み測定方法であって、前記局部発信信号の周波数よりも大きい周波数を有する第1の高周波信号と、前記局部発信信号の周波数よりも小さい周波数を有する第2の高周波信号とを前記第1の端子に同時に入力することによって、前記第3の端子から出力される前記中間周波信号に対して生じる相互変調歪みを測定する工程を備えていることを特徴とするミキサの歪み測定方法。
IPC (4件)：
G01R 23/20
, G01R 31/00
, H03D 7/00
, H04B 1/26
G01R 23/20 D
, G01R 23/20 E
, G01R 31/00
, H03D 7/00 Z
, H04B 1/26 B
2G036AA11
, 2G036BA13
, 2G036CA10
, 5K020DD03
