特許

J-GLOBAL ID：200903004842385920

液晶ディスプレイ検査装置

発明者： 古谷 利器 ,  足立 俊雄 ,  横森 政夫
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-128971
公開番号（公開出願番号）：特開平6-337653
出願日： 1993年05月31日
公開日（公表日）： 1994年12月06日
要約：

【要約】【目的】 従来の目視による検査と比較して、不良品の見逃しが生じず、かつ常に一定の判定基準で合否を判定するような液晶ディスプレイ検査装置を実現する。【構成】 液晶ディスプレイの表示の欠陥検査を行う液晶ディスプレイ検査装置において、コントラスト値の調整が可能で、全画素消燈および全画素点燈、または縞パターンの検査画面を表示することのできる液晶ディスプレイを検査対象として、この液晶ディスプレイの表示画像を撮像するカメラと、このカメラからの画像が送信され、画像間演算・画像の2値化・ラベル付け・面積/重心の計測ができる画像処理装置と、この画像処理装置と通信を行いながら前記液晶ディスプレイに表示画面の切り換えコマンドやコントラスト値調整コマンドを送信する計算機とを備えた構成としたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

液晶ディスプレイの表示の欠陥検査を行う液晶ディスプレイ検査装置において、コントラスト値の調整が可能で、全画素消燈および全画素点燈、または縞パターンの検査画面を表示することのできる液晶ディスプレイを検査対象として、この液晶ディスプレイの表示画像を撮像するカメラと、このカメラからの画像が送信され、画像間演算・画像の2値化・ラベル付け・面積/重心の計測ができる画像処理装置と、この画像処理装置と通信を行いながら前記液晶ディスプレイに表示画面の切り換えコマンドやコントラスト値調整コマンドを送信する計算機とを備えた構成としたことを特徴とする液晶ディスプレイ検査装置。

IPC (3件)：

G09G 3/18 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-189696
  
• 特開平2-234191
  
• 画面検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-156932   出願人：松下電器産業株式会社