特許

J-GLOBAL ID：200903004845132810

画面の線欠陥の検出方法及び検出装置

発明者： 村上 拓史 ,  小島 広一 ,  市川 裕也
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 稲葉 良幸 ,  田中 克郎 ,  大賀 眞司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-227636
公開番号（公開出願番号）：特開2006-047077
出願日： 2004年08月04日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：

【課題】 信頼性の高い画面の線欠陥の検出方法及び検出装置の提供。 【解決手段】 入力された画面の画像情報から着目画素を選択し、当該着目画素を含むようにサンプリング領域を画定するサンプリング領域画定過程と、前記サンプリング領域の画素データから各画素列ごとに輝度が最大又は最小となる特徴画素を抽出する特徴画素抽出過程と、前記着目画素に、前記特徴画素の位置情報から得られる線欠陥の予想位置と前記着目画素との距離に応じた重み付けを行った値を設定する特徴値設定過程と、前記サンプリング領域画定過程から前記特徴値設定過程までの過程を各着目画素について繰り返し行うことにより、前記画面の全体領域における全画素について特徴値を設定し、当該特徴値に基づいて前記画面の線欠陥を判別する判別過程と、を含む画面の線欠陥の検出方法により、上記課題を解決する。【選択図】 図3

請求項１：

入力された画面の画像情報から着目画素を選択し、当該着目画素を含むようにサンプリング領域を画定するサンプリング領域画定過程と、 前記サンプリング領域の画素データから各画素列ごとに輝度が最大又は最小となる特徴画素を抽出する特徴画素抽出過程と、 前記着目画素に、前記特徴画素の位置情報から得られる線欠陥の予想位置と前記着目画素との距離に応じた重み付けを行った値を設定する特徴値設定過程と、 前記サンプリング領域画定過程から前記特徴値設定過程までの過程を各着目画素について繰り返し行うことにより、前記画面の全体領域における全画素について特徴値を設定し、当該特徴値に基づいて前記画面の線欠陥を判別する判別過程と、 を含むことを特徴とする画面の線欠陥の検出方法。

IPC (5件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 ,  G06T 1/00

FI (5件)：

G01N21/88 Z ,  G01B11/30 Z ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G06T1/00 300

Fターム (35件)：

2F065AA18 ,  2F065CC25 ,  2F065DD11 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA18 ,  2H088FA30 ,  2H088MA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CC01 ,  5B057CD05 ,  5B057CH08 ,  5B057CH11 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DA12 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02

引用特許：

出願人引用 (2件)

• LCDパネル検査における線ムラ検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-037274   出願人：三洋電機株式会社
• 画面の線欠陥検出方法及び装置並びに画像データの補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-365905   出願人：セイコーエプソン株式会社