特許
J-GLOBAL ID：200903004850603503
誘電緩和測定用プローブ
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田治米 登 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-313134
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142170
出願日： 1996年11月07日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 時間領域反射法(TDR法)などの誘電緩和測定にしたがい、試料の水分濃度を非破壊的に測定するにあたり、試料における測定部位の性状を確認しつつ試料表層の水分濃度を正確に測定できるようにする。【解決手段】 芯線状の内部電極21と、その内部電極21に絶縁体22を介して同軸状に配された外部電極23とからなり、内部電極21の先端面と外部電極23の先端面とが試料に対する接触面となる誘電緩和測定用電極2、及び該誘電緩和測定用電極2による試料の測定部位S0 の拡大画像を撮る撮像手段を誘電緩和測定用プローブに設ける。この撮像手段としてはボアスコープ30が好ましい。
請求項（抜粋）：
芯線状の内部電極と、その内部電極に絶縁体を介して同軸状に配された外部電極とからなり、内部電極の先端面と外部電極の先端面とが試料に対する接触面となる誘電緩和測定用電極及び該誘電緩和測定用電極による試料の測定部位の拡大画像を撮る撮像手段が設けられていることを特徴とする誘電緩和測定用プローブ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 22/04 Z
, G01N 22/00 Y
