特許
J-GLOBAL ID：200903004865880074
画像読み取り方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 純博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-064874
公開番号（公開出願番号）：特開平5-269137
出願日： 1992年03月23日
公開日（公表日）： 1993年10月19日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、階段状標準物質のX線写真フイルム像を透過光量によって読み取るに際して、その標準物質のX線撮影時におけるX線の放射状拡散の影響による階段状部の像の広がり等がある場合にも各段についての像の正確な透過光量の読み取りを可能にしようとするものである。【構成】 本発明は、階段状標準物質のX線写真像における階段のエッジについてのエッジ候補位置を求め、エッジ間隔の平均値Paを求め、Paを用いてさらにエッジ位置を推定し、これらのエッジ候補位置及び推定したエッジ位置から各段の所定位置を求めてそこでの透過光量を各段の透過光量値として読み取ることを特徴としている。
請求項（抜粋）：
厚さが階段状に変化している標準物質と共に撮影された被検物のX線写真フイルムに光を照射して得られる透過光量を用いて該フイルムにおける画像の読み取りを行う方法において、該標準物質の画像に関して該標準物質の厚さが変化している主走査方向についての透過光量を読み取り、該標準物質の階段のエッジに関して所定の条件を満たしたエッジ候補の位置を求め、該エッジ候補に位置から各段のエッジ間隔Piを求めて得られた各エッジ間隔Piの平均値Paを算出し、エッジ候補の位置が検出できなかった領域について、該平均値Paをピッチとしてエッジ位置を推定し、該エッジ候補及び推定したエッジの位置の各エッジ間の領域における所定の位置での透過光量を対応した段についての透過光量の値として採用することを特徴とした画像読み取り方法。
IPC (2件)：
A61B 10/00
, A61B 6/00 390
