特許

J-GLOBAL ID：200903004889624478

光学センサ表面に位置する物質を分析する装置

発明者： ファッティンガー,クリストフ ,  ダニエルツィック,ブルクハルト ,  グレーフェ,ディーター ,  ヘミンク,マルティン ,  レンテス,フランク-トーマス
出願人/特許権者： カール ツアイス イエーナ ゲゼルシャフト ,  エフ.ホフマン-ラ ロッヘ ,  ショット グラスヴェルケ
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-514213
公開番号（公開出願番号）：特表平8-505951
出願日： 1994年11月14日
公開日（公表日）： 1996年06月25日
要約：

【要約】少なくとも1つの導波フィルムと、光ビームの入射及び出射のための少なくとも1つの多重回折格子カプラとを備えた光学センサの表面上または同表面付近に位置する物質を分析する装置であって、前記光学センサが角度αを相互間に有する少なくとも2つの光ビームの入射を受け、次いで角度ψを相互間に有する少なくとも2つの光ビームを出射し、前記出射光ビームを検出する検出システムを備え、入射及び出射がセンサの1つの同一面において実施され、入射ビーム及び出射ビームは入射面の異なる象限にそれそれ位置し、入射ビーム間の角度αが出射ビーム間の角度ψより大きいことを特徴とする装置。装置は誘導波と、センサ面上または同センサ面付近に位置する媒体との間の相互作用に基づいて物理的または科学的測定値を断定するための多数の用途を有している。

請求項（抜粋）：

少なくとも1つの導波フィルムと、光ビームの入射及び出射のための少なくとも1つの多重回折格子カプラとを備えた光学センサの表面上または同表面付近に位置する物質を分析する装置であって、前記光学センサが角度αを相互間に有する少なくとも2つの光ビームの入射を受け、次いで角度ψを相互間に有する少なくとも2つの光ビームを出射し、前記出射光ビームを検出する検出システムを備え、入射及び出射がセンサの1つの同一面において実施され、入射ビーム及び出射ビームは入射面の異なる象限にそれそれ位置し、入射ビーム間の角度αが出射ビーム間の角度ψより大きいことを特徴とする装置。